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光源發射器LIC
非接觸邊緣位置檢測
LIC光源發射器經常用于分析系統如EVK或EVM接收器調整裝置，以對非透明材料進行非接觸邊緣位置檢測。使用集成電控元件可以實現光強度的精確控制和故障監測。
壓縮光源系統LIC的發展，進 步完善了已廣受好評的高頻光源接受器LIH。它與LIH光源 大的區別在于其將電子控制系統與光源相結合，并應用于標準的工業熒光管上。
熒光燈管接受1000Hz來自LIC光電設備的脈沖壓后，由 光電池檢測到其光源強度，然后通過電控器將其值控制在穩定范圍內。而熒光燈管的電壓、溫度變化和燈管的老化均不會對燈光強度和測量數據產生影響。當達到控制 限或失去正常光源時，帶鋼位置控制器的只能監控系統會立刻鎖定控制器并發送錯誤報告。為了便于維護，熒光管裝在帶有橫向導軌的可拆卸部件上。并使用穩壓工業插頭以確保方便、快捷地進行操作。
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