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1、低溫試驗
電工電子產品環境試驗 2部分：試驗方法 試驗A：低溫 GB/T 2423.1-2008
2、高溫試驗
電工電子產品環境試驗 2部分：試驗方法 試驗B：高溫 GB/T 2423.2-2008
3、恒定濕熱試驗
環境試驗 2部分：試驗方法 試驗Cab：恒定濕熱試驗 GB/T 2423.3-2016
4、交變濕熱（12h+12h循環）
電工電子產品環境試驗 2部分：試驗方法 試驗Db:交變濕熱（12h+12h循環） GB/T 2423.4-2008
5、沖擊試驗
電工電子產品環境試驗 2部分：試驗方法 試驗Ea和導則：沖擊 GB/T 2423.5-1995
6、碰撞試驗
電工電子產品環境試驗 二部分：試驗方法 試驗Eb和導則：碰撞 GB/T 2423.6-1995
7、傾跌與翻倒試驗
電工電子產品環境試驗 2部分：試驗方法 試驗Ec和導則：傾跌與翻倒(主要用于設備型樣品) GB/T 2423.7-1995
8、自由跌落試驗
電工電子產品環境試驗 二部分：試驗方法 試驗Ed：自由跌落 GB/T 2423.8-1995
9、振動（正弦）試驗
電工電子產品環境試驗 2部分：試驗方法試驗Fc：振動（正弦） GB/T 2423.10-2008
10、振動 混合模式
電工電子產品環境試驗 2部分：試驗方法試驗Fi：振動 混合模式 GB/T 2423.58-2008
11、鹽霧試驗
電工電子產品環境試驗 2部分：試驗方法 試驗Ka： 鹽霧 GB/T 2423.17-2008
12、鹽霧，交變（氯化鈉溶液）
電工電子產品環境試驗 2部分：試驗方法 試驗Kb： 鹽霧，交變（氯化鈉溶液） GB/T 2423.18-2012
13、溫度變化試驗
電工電子產品環境試驗 2部分：試驗方法 試驗N：溫度變化 GB/T 2423.22-2012
14、寬帶隨機振動（數字控制）
電工電子產品環境試驗 2部分：試驗方法 試驗Fh：寬帶隨機振動（數字控制）和導則 GB/T 2423.56-2006
15、可靠性試驗
設備可靠性試驗 恒定失效率假設下的失效率與平均無故障時間的驗證試驗方案 GB/T 5080.7-1986
16、低氣壓試驗
電工電子產品 環境試驗 2部分：試驗方法 試驗M：低氣壓GB/T 2423.21-2008
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